產(chǎn)品詳細介紹
最大測試管腳數(shù):256
測試適用范圍: 元器件測試-適用于所有類型的集成電路的測試和元器件的篩選測試 電路板測試-適用各種電路板的檢測(附加測試電纜線和各種封裝的測試夾)
測試原理(v-i曲線測試): 對元器件的每個管腳施加一個安全的低功率的掃描驅(qū)動信號,產(chǎn)生一個阻抗特征圖,以備對比和存儲。 被測器件和數(shù)據(jù)庫中標準動態(tài)阻抗圖相比對,阻抗圖的差異大小即可判斷元件的好壞和可用性。 測試信號可設定的參數(shù)包括: 電壓、波形、源電阻、頻率。可根據(jù)需要進行調(diào)整以便得到準確的信息。
集成電路測試操作如此簡單: 1.從數(shù)據(jù)庫選擇要測試的集成電路型號. 2.將集成電路插入測試座. 3.執(zhí)行測試 4.得到PASS或FAIL的測試結(jié)果.
商品輸入檢驗 不需要電子專業(yè)知識. 適用于所有集成電路/封裝件.及各種類型電路板 靈活、好安裝、宜操作. 測試結(jié)果直接: PASS或FAIL. 軟件可設定各種測試條件. 可提供完整的元件測試分析報告.
適合不同封裝形式的元件: -雙列插腳(DIL) -小型封裝集成集成電路(SOIC) -小型封裝(SSOP, TSOP) -塑料無引線芯片載體封裝(PLCC) -四方扁平封裝(TQFP, PQFP, LQFP) -球門陣列封裝(BGA) 注意: AT系列不受限于只能測試電子集成電路, 也可用于整個模塊。
測試通道 標準提供多達128個測試通道, 可設定用于不同的元器件封裝。 升級模塊:64通道 可擴充到192/256個測試通道。
用兩種模式掃瞄: •一般模式: 掃描信號是以一固定管腳為參考點, 測試信號施加到待測元器件上。 •矩陣模式: 掃描信號是以元器件的各個管腳為參考點, 測試信號循環(huán)組合施加到待測元器件上。
數(shù)據(jù)庫 用戶可根據(jù)自己的需要,用性能完好的器件創(chuàng)建ic的測試數(shù)據(jù)庫,以備日后測試使用。創(chuàng)建一個測試庫僅需要數(shù)秒的操作時間,操作十分簡單容易。
結(jié)果比較型式: 將數(shù)據(jù)庫中的IC與待測ic的V-I曲線相比較, 即可判定被測IC的好壞,提供兩種比較型式:
•與數(shù)據(jù)庫中元件比較: 被測IC的V-I曲線與數(shù)據(jù)庫中的相同型號的IC比較 • 被測IC之間比較比較: 多個集成電路的之間的V-I曲線相比較。
軟件- 靈活性 1)軟件提供測試庫圖形化修改功能,以方便用戶制作不同新封裝形式器件的測試庫, 2)軟件可以自定義各個通道的使用,一臺機器可以同時檢測多個器件
報告 1)軟件可產(chǎn)生一詳細的測量報告, 包含集成電路相片。這份報告可用于深入分析好壞集成電路的差異具體原因。 2)用戶可處理集成電路的各種信息; 集成電路的動態(tài)阻抗圖可儲存在pc中,并可隨時讀出, 以與新的掃瞄阻抗圖作比較。 3)為了今后使用方便, 可在集成電路的存儲數(shù)據(jù)文件夾內(nèi)增加其它信息, 包括:相片、PDF文件或甚至文字與電子表格。
轉(zhuǎn)接器 標準型: 用于SOIC、SSOP、TSOP及PLCC封裝; 也有提供AT系列校正工具組。
英國abi-集成電路測試儀,AT256,標準型測試座
標準SOIC轉(zhuǎn)接器
通用型: 用于SOIC及PLCC封裝; 一個轉(zhuǎn)接器即適用于各種芯片尺寸, 測試有20、28、32、44、52、68、84腳的集成電路。
英國abi-集成電路測試儀,AT256,通用型測試座
一個轉(zhuǎn)接器即適用于測試寬0.15”~0.6”達44腳的集成電路。
客制型: 可訂制各種封裝的轉(zhuǎn)接器, 包括: BGA、QFP; 請進一步洽詢, 以設計符合您需求的轉(zhuǎn)接器。
英國abi-集成電路測試儀,AT256,客戶定制型測試座
BGA插座轉(zhuǎn)接器
技術(shù)規(guī)格
掃描測試波形 正弦波,鋸齒波,三角波 掃描測試頻率 6種頻率供選擇:100Hz,200Hz,500Hz,1KHz,2KHz,5KHz 掃描電壓(Vs) 4種峰值電壓選擇:-20~+20V 步進0.1V 掃描源電阻(Rs) 3種電阻供選擇:1kΩ, 10kΩ,100kΩ 掃描通道 AT128通道數(shù)量:128通道(已停產(chǎn)) AT192通道數(shù)量:192通道 AT256通道數(shù)量:256通道 顯示模式:VI曲線圖 掃描模式:手動或連續(xù), 或自行設定掃描次數(shù) 掃瞄模式 一般模式:掃描信號是以一固定管腳為參考點,測試信號施加到待測元器件上. 矩陣模式:掃描信號是以元器件的各個管腳為參考點,測試信號循環(huán)組合施加到待測元器件上. 電腦連接 USB 連接電腦使用,標準配置含上位機軟件 適合不同封裝形式元件: 適合不同封裝形式的元件: -雙列插腳(DIL) -小型封裝集成集成電路(SOIC) -小型封裝(SSOP, TSOP) -塑料無引線芯片載體封裝(PLCC) -四方扁平封裝(TQFP, PQFP, LQFP) -球門陣列封裝(BGA) 注意: AT系列不受限于只能測試電子集成電路, 也可用于整個模塊及電路板。 測試報告 可自行編輯測試報告
功率需求 線路電壓:85~264VAC 頻率:47~63Hz 功率:最大150W 尺寸/重量 尺寸:27x25x9cm;重量:3.5kg 操作溫度.濕度 溫度:10°C~30°C濕度: 20~80% RH。 保修期 一年 認證 CE認證& RoHS合格。 計算機規(guī)格需求 Microsoft Windows XP或Vista Pentium 4或更高 最小的RAM:512 MB 硬盤空間:200MB USB2.0高速傳輸 鼠標,鍵盤與屏幕 標準配件: 用戶手冊。 USB導線。 軟件CD(含驅(qū)動程序與操作手冊)。 選購配件: 校正工具組。 各種轉(zhuǎn)接器。
儀器用途一 翻新及二手器件檢測 • 可由倉庫部門在收到集成電路時進行檢查, 以確保收到的集成電路是真品; 商品輸入部門的員工不需要電子知識即可操作這個系統(tǒng)。 • 檢查可能偽造的集成電路, 并分析供貨商的測試數(shù)據(jù)。用戶可應用完整的報告, 確定問題的來源。
翻新及二手器件檢測儀 能快速簡單檢測出翻新IC及集成電路測試的解決方案。 透過精密的PinPrint(針印)測試算法則,能夠辨識出有不同內(nèi)部結(jié)構(gòu)或根本沒有結(jié)構(gòu), 甚至是由不同廠家所制造的集成電路。 他就像您的電子守衛(wèi), 守衛(wèi)在您生產(chǎn)設備之入口, 不受偽造元器件之滲透傷害。
何謂偽造翻新集成電路 Counterfeit [koun-ter-fit](形容詞): 意思是仿造, 以便虛偽不實地假裝是真品。 制造膺品(仿冒品)集成電路是非法的, 會出現(xiàn)(仿冒品)是因為電子零件的可轉(zhuǎn)讓。全球任何需要制造PCB集成電路的公司都在承擔這個風險, 也或許曾經(jīng)收到過大批的”不良”元器件。 仿冒可透過各種過程達成: 在極不可靠的過程里, 把集成電路從報廢/棄置的電路板中取出, 接著作表面處理維修; 再加上偽相關(guān)信息于集成電路上, 包括制造廠商標, 然后拿來當作真品賣給粗心的買家。另一個方法則是真的憑正規(guī)的制造能力, 在標準工時以外的大夜班(ghost shift)生產(chǎn)集成電路, 然而, 以那種方式生產(chǎn)的芯片含有許多制造上的瑕疵, 有些甚至沒有硅片(silicon die)。 很不幸地, 得一直等到把它們放在PCB上, 在生產(chǎn)團隊對完整的組裝進行第一次測試時, 才可能鑒別到仿造的集成電路。如此將導致昂貴的過程-辨識問題集成電路、再把它們從生產(chǎn)中的所有電路板上拿掉。在某些情況下, 甚至得把整批成品回收回工廠。 5年來, 仿冒集成電路的舉發(fā)呈倍數(shù)地增加; 2008年, 仿冒IC的出口量占全球貿(mào)易總額的8%以上, 相當于損失60億的銷售額。
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