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            Solar Cell Scan100系統(tǒng)組成
            ■ 系統(tǒng)包括兩個(gè)150Ｗ氙燈，分別做為探測(cè)光源和偏置光源(選配件)。
            ■ 采用300mm焦距的三光柵光譜儀做為分光系統(tǒng),保證良好的波長(zhǎng)準(zhǔn)確度和重復(fù)性，消除多級(jí)光譜的影響。
            ■ 獨(dú)特的測(cè)試光路，可同時(shí)實(shí)現(xiàn)響應(yīng)度與鏡面反射率的測(cè)試．對(duì)于漫反射樣品的反射率測(cè)試，則采用積分球方式來(lái)實(shí)現(xiàn)，確保了測(cè)試的準(zhǔn)確性．探測(cè)光光斑大小從3mm至10mm可調(diào)，以適合不同尺寸的樣品測(cè)試。
            ■ 樣品臺(tái)采用高精度二維平移機(jī)構(gòu)，配有恒溫(或變溫）及真空吸附裝置，變溫范圍可達(dá)到5～40度。
            ■ 系統(tǒng)可工作于斬波模式與連續(xù)模式，斬波模式采用鎖相放大器來(lái)實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)采集，連續(xù)模式采用高精度直流放大器來(lái)實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)采集。
            ■ 采用二維高精度電控位移臺(tái)可對(duì)電池樣品進(jìn)行Mapping掃描，
            ■ 專(zhuān)業(yè)軟件，可實(shí)現(xiàn)一鍵自動(dòng)完成響應(yīng)度、反射率、QE及IPCE的測(cè)試。并可針對(duì)不同應(yīng)用，自行設(shè)計(jì)測(cè)試流程。

太陽(yáng)能電池QE/IPCE(量子效率)測(cè)量系統(tǒng)

產(chǎn)品型號(hào)：Solar Cell Scan100
產(chǎn)品代碼：
產(chǎn)品價(jià)格：
最后更新：2012-12-14
關(guān) 注度：8180
生產(chǎn)企業(yè)：北京卓立漢光儀器有限公司

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產(chǎn)品詳細(xì)介紹太陽(yáng)能電池QE/IPCE(量子效率)測(cè)量系統(tǒng)

Solar Cell Scan100
太陽(yáng)能電池（光伏材料）光譜響應(yīng)測(cè)試、量子效率QE（Quantum Efficiency）測(cè)試、光電轉(zhuǎn)換效率IPCE (Monochromatic Incident Photon-to-Electron Conversion Efficiency) 測(cè)試等。廣義來(lái)說(shuō)，就是測(cè)量光伏材料在不同波長(zhǎng)光照條件下的光生電流、光導(dǎo)等。

測(cè)試原理
用強(qiáng)度可調(diào)的偏置光照射太陽(yáng)能電池，模擬其不同的工作狀態(tài)，同時(shí)測(cè)量太陽(yáng)能電池在不同波長(zhǎng)的單色光照射下產(chǎn)生的短路電流,從而得到太陽(yáng)能電池的絕對(duì)光譜響應(yīng)與量子效率。

Solar Cell Scan100特點(diǎn)
◆ 掃描光源波長(zhǎng)輸出范圍:300-2000nm
Solar Cell Scan100不僅適合常規(guī)太陽(yáng)能電池的性能研究，而且適合各類(lèi)新型近紅外太陽(yáng)能電池材料性能的研究，真正實(shí)現(xiàn)了全光譜太陽(yáng)能電池性能一體化測(cè)試。

            ◆ 獨(dú)有的垂直光路設(shè)計(jì)
               獨(dú)有的垂直光路設(shè)計(jì)，被測(cè)樣品平面放置,不僅確保樣品的穩(wěn)定擺放，以保證測(cè)試的穩(wěn)定性，而且更適合染料敏化電池的測(cè)試。
            ◆ JSC模擬計(jì)算功能
            ◆ 時(shí)間穩(wěn)定度測(cè)試
            ◆ 具有真空吸附及恒溫保持功能的樣品臺(tái)(選配件)
            ◆ 測(cè)試光斑大小可調(diào)，適用不同尺寸樣品的測(cè)試




◆ 基于Windows的軟件：
    a) 自動(dòng)控制掃描、樣品切換、光柵切換和數(shù)據(jù)采集
    b) 測(cè)量光譜響應(yīng)度、反射率、內(nèi)量子效率、外量子效率、均勻度掃描等
    c) 數(shù)據(jù)導(dǎo)出及報(bào)表打印功能，數(shù)據(jù)導(dǎo)出格式支持Office、Origin、matlab等分析軟件



            ◆ 多結(jié)以及多層膜電池的測(cè)試
                通過(guò)改變偏置光光強(qiáng),來(lái)飽和各結(jié)太陽(yáng)能電池，分析待測(cè)結(jié)太陽(yáng)能電池量子效率。

            ◆ 反射率測(cè)量
                系統(tǒng)提供鏡面反射與漫反射測(cè)試選件，提供您完整的反射率測(cè)試分析手段。





            偏置光平行光路




            積分球漫反射測(cè)量





            ◆ 開(kāi)放式偏置光路
                偏置光路上預(yù)留光學(xué)元件的安裝位置，您可自由改變偏置光的條件，可用于對(duì)太陽(yáng)能電池缺陷做先期的分析。
            ◆ 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)
               適用于樣品尺寸相對(duì)固定的太陽(yáng)能電池片的量測(cè)。可升級(jí)為變溫或恒溫樣品臺(tái)。
            ◆ 變溫樣品臺(tái)
                在不同的溫度下測(cè)量太陽(yáng)能電池電流的輸出，對(duì)太陽(yáng)能電池在實(shí)際工作環(huán)境下是否存在缺陷做先期的分析。
            ◆ 大面積太陽(yáng)能電池片(最大156x156mm)的掃描檢測(cè),二維自動(dòng)平移系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)對(duì)電池樣品的各個(gè)位置做測(cè)量分析(選配件）
               1.量子效率均勻性分析
                2.反射率均勻性分析


            標(biāo)準(zhǔn)與變溫樣品臺(tái)


            電控掃描樣品臺(tái)

            ◆ 斬波與連續(xù)兩種測(cè)試模式，可實(shí)現(xiàn)常規(guī)光電池以及慢響應(yīng)光電池的光譜響應(yīng)測(cè)試
                Solar Cell Scan 100 提供斬波模式QE/IPCE測(cè)量，可實(shí)現(xiàn)對(duì)多種太陽(yáng)電池的測(cè)試（DSSC, Organic, Amorphous silicon,   Monocrystalline Silicon, Microcrystalline Silicon, Polycrystalline Silicon, CdTe, CIGS, GaAs），也提供連續(xù)模式配合暗室測(cè)量光電轉(zhuǎn)換較慢的太陽(yáng)能電池材料QE測(cè)量，如染料敏化與光化學(xué)太陽(yáng)能電池材料量子效率測(cè)量。

Solar Cell Scan100 主要技術(shù)指標(biāo)

項(xiàng)

目

指標(biāo)和說(shuō)明

150W

氙燈

光學(xué)穩(wěn)定度≦0.8%，可工作在斬波模式（適合常規(guī)單晶/多晶/非晶硅、CdTe CIGS GaAs 等太陽(yáng)能電池）與連續(xù)模式（適合慢響應(yīng)染料敏化電池，有機(jī)太陽(yáng)能電池）

測(cè)試光斑尺寸

3mm~10mm

三光柵DSP掃描單色儀

波長(zhǎng)范圍

300nm～2000nm

波長(zhǎng)準(zhǔn)確度

a) ±0.3nm（

1200g/mm,300nm）

b) ±0.6nm(600g/mm,500nm)
c) ±0.8nm(300g/mm,1250nm)

掃描間隔

最小可至0.1nm

輸出波長(zhǎng)帶寬

<5 nm

多級(jí)光譜濾除裝置

根據(jù)波長(zhǎng)自動(dòng)切換，消除多級(jí)光譜的影響

光調(diào)制頻率

4 - 400 Hz

標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)尺寸

164mmx164mm

標(biāo)準(zhǔn)硅探測(cè)器

含校正報(bào)告

偏置光源

光強(qiáng)可調(diào)，最高可大于1個(gè)太陽(yáng)常數(shù)（需選配)

樣品最大尺寸

156mm×

156mm

數(shù)據(jù)采集裝置靈敏度

a) 斬波模式：2nV；b) 連續(xù)模式：100nA

測(cè)量重復(fù)精度

對(duì)太陽(yáng)光譜曲線(xiàn)積分重復(fù)性在±1%以?xún)?nèi)

測(cè)試周期

單次掃描<1min，完整測(cè)試<5min (步長(zhǎng)5nm)

反射率測(cè)量

鏡面反射 300-1100nm(需選配）；漫反射 300-1600nm(需選配）

溫度控制

恒溫控制：25±

1℃(需選配）；變溫控制：5~40

℃(需選配）

3D Mapping

156mm×

156mm，100um分辨率

儀器尺寸

主機(jī)：

842mm×

770mm×

575mm；控制柜：

800mm×

600mm×

1300mm

Solar Cell Scan 100

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