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英國(guó)abi-BM8600電路板故障檢測(cè)儀
產(chǎn)品型號(hào):BM8600
產(chǎn)品代碼:
產(chǎn)品價(jià)格:
折 扣 率: 0
最后更新:2024-05-25
關(guān) 注 度:7443
生產(chǎn)企業(yè):北京金三航科技發(fā)展有限公司
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產(chǎn)品詳細(xì)介紹

電路板故障檢測(cè)儀系統(tǒng)概述:
   可提供全品種的專業(yè)級(jí)電路板測(cè)試、電路板檢測(cè)的多功能電路板故障診斷系統(tǒng)。由硬件測(cè)試平臺(tái)、可編程軟件測(cè)試平臺(tái)、測(cè)試夾具(含夾具、治具)組成。硬件測(cè)試平臺(tái)由測(cè)試單元組成,可根據(jù)測(cè)試要求擴(kuò)充測(cè)試單元進(jìn)而擴(kuò)充系統(tǒng)的測(cè)試功能和測(cè)試通道。軟件測(cè)試平臺(tái)可以通過代碼和非代碼編程方式完成測(cè)試程序編程,實(shí)現(xiàn)測(cè)試過程的所有數(shù)據(jù)和步驟的存檔保留,形成流程化、標(biāo)準(zhǔn)化、信息化的測(cè)試程序,實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)軟件自動(dòng)化測(cè)試,提高排查故障的準(zhǔn)確率和系統(tǒng)的測(cè)試效率。

一、BM8600電路板故障檢測(cè)儀系統(tǒng)構(gòu)成:
系統(tǒng)構(gòu)成概述:

1.系統(tǒng)硬件測(cè)試平臺(tái):(各個(gè)測(cè)試單元可根據(jù)測(cè)試需要擴(kuò)充測(cè)試模塊以達(dá)到需要的測(cè)試通道)

1)多電源數(shù)字集成電路測(cè)試單元(數(shù)字電路測(cè)試單元):可擴(kuò)充:2048路測(cè)試通道;

2)模擬集成電路測(cè)試單元(模擬器件測(cè)試單元);

3)多功能儀表單元(八合一儀表單元);

4)三維立體V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試單元(動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試單元)可擴(kuò)充:2048路測(cè)試通道;

5)可編程程控電源單元:可根據(jù)測(cè)試需要擴(kuò)充電源通道

6)硬件測(cè)試框架;

2.可編輯軟件測(cè)試平臺(tái):

1)非代碼編程:測(cè)試流程管理,形成流程化、標(biāo)準(zhǔn)化、信息化的測(cè)試程序;

2)代碼編程:自動(dòng)化、半自動(dòng)化電路板整板測(cè)試,實(shí)現(xiàn)電路板批量化測(cè)試、電路板生產(chǎn)檢驗(yàn)測(cè)試、電路板一致性分析測(cè)試。

3.測(cè)試夾具:

1)測(cè)試夾具:日常手工測(cè)試所需要的夾具;

2)治具:電路板整板測(cè)試的專用測(cè)試工裝(定制:包括:針床、專用接口板等)

(一)BM8600電路板故障檢測(cè)儀系統(tǒng)硬件測(cè)試平臺(tái)功能:

1.多電源數(shù)字集成電路測(cè)試單元(數(shù)字電路測(cè)試單元):可擴(kuò)充:2048路測(cè)試通道;單元由ABI-6500模塊*2組成

1)128通道(可擴(kuò)充至2048通道)

2)數(shù)字器件功能測(cè)試,管腳電壓,管腳連接狀態(tài),溫度拐點(diǎn)系數(shù),數(shù)字V-I測(cè)試

3)高級(jí)邏輯時(shí)序發(fā)生器

4)電路板故障高級(jí)查找功能

5)短路追蹤(通斷測(cè)量)

6)未知型號(hào)器件的判別

2.模擬集成電路測(cè)試單元(模擬器件測(cè)試單元);單元由ABI-2500模塊*1組成

1)模擬器件V-I曲線測(cè)試,矩陣測(cè)試;

2)24路測(cè)試通道,2通道探筆測(cè)試,2通道同步脈沖輸出,3路分立器件測(cè)試通道;

3)各種器件的V-I, V-T, I-T曲線測(cè)試;

4)模擬集成電路及分立器件測(cè)試功能。

3.三維立體V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試單元(動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試單元)可擴(kuò)充:2048路測(cè)試通道;單元由ABI-3400模塊*1組成

1)規(guī)格:64路測(cè)試通道+4路探棒測(cè)試+4組同步脈沖,可切換為32+32路測(cè)試模式;

2)提供: V-I-F,V-T-F,V-I, V-T曲線測(cè)試;

3)矩陣測(cè)試:對(duì)所有管腳間的V-I(阻抗)曲線測(cè)試

4)在二維的圖形上可顯示該曲線各點(diǎn)的電氣參數(shù)值(V/I):電壓、電流具體數(shù)值;

5)設(shè)備可以64通道為步進(jìn)最大擴(kuò)充到2048路測(cè)試通道。

4.多功能儀表單元(八合一儀表單元);單元由ABI-6350模塊*1組成

規(guī)格:集成8種常用測(cè)試儀器于一體;

1)3通道數(shù)字示波器;

2)2通道任意波形發(fā)生器;

3)2通道數(shù)字電壓表;

4)1通道數(shù)字電流表;

5)1通道數(shù)字電阻表;

6)1通道頻率計(jì);

7)8通道通用I/O接口;

8)4路固定輸出電源。

5.可編程程控電源單元;單元由ABI-1200模塊*1組成

1)規(guī)格:三路可調(diào)輸出,可串并聯(lián);

2)通道完全隔離;

3)每路提供0~±40VDC、8Amax、40Wmax

4)具備過壓、過流保護(hù)

5)遠(yuǎn)端電壓監(jiān)測(cè)補(bǔ)償功能

6.硬件測(cè)試框架:英國(guó)原產(chǎn)19英寸機(jī)架式含計(jì)算機(jī)(可以最大安裝六組模塊)

(二)可編程軟件測(cè)試平臺(tái)功能

中英文軟件,可通過編程軟件對(duì)所有模塊進(jìn)行操作控制

1.具有測(cè)試流程記憶功能(軟件具有強(qiáng)大的測(cè)試流程編輯和記錄功能)

2.測(cè)試流程的制定貫穿整個(gè)測(cè)試過程,使電路測(cè)試過程形成標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試流程(維修流程、生產(chǎn)流程、 測(cè)試流程)?梢园凑諟y(cè)試要求,保存流程測(cè)試的所有步驟和數(shù)據(jù),形成標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試流程。保證了測(cè)試工藝的一致性,排除人為因素的干擾。使測(cè)試簡(jiǎn)單、容易、標(biāo)準(zhǔn)化、工藝化。

3.全面記錄各種測(cè)試信息。軟件可將標(biāo)準(zhǔn)電路板上測(cè)量到的管腳電壓、連接關(guān)系、功能測(cè)試結(jié)果等  信息以及V-I和V-T曲線圖都存儲(chǔ)記錄到測(cè)試流程中,方便隨時(shí)與其他電路板進(jìn)行對(duì)比,大大簡(jiǎn)化了測(cè)試中需要重復(fù)對(duì)比的工作。

4.軟件在測(cè)試流程中允許用戶加入對(duì)測(cè)試步驟的文字說(shuō)明、照片、Office Word、Office Excel、PDF文檔、網(wǎng)頁(yè)鏈接、視頻等,極大提升了測(cè)試效率。

5.圖形化測(cè)試庫(kù)編輯器,圖形化定義輸入激勵(lì)信號(hào)及測(cè)試記錄輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號(hào),快速建立元器件與電路板測(cè)試庫(kù),元器件與整板測(cè)試庫(kù)擴(kuò)充簡(jiǎn)單、快捷. 非專業(yè)人員可以快速擴(kuò)充測(cè)試庫(kù)。

6.*測(cè)試數(shù)據(jù)記錄并生成自定義檢測(cè)報(bào)告。系統(tǒng)的測(cè)試數(shù)據(jù)可以根據(jù)需要定制生成自定義測(cè)試報(bào)告。測(cè)試報(bào)告可以包含用戶關(guān)注的測(cè)試數(shù)據(jù)與測(cè)試結(jié)果。生成用戶專有的測(cè)試報(bào)告,方便測(cè)試數(shù)據(jù)的保存。

7.*中文、英文測(cè)試操作軟件,中文軟件漢化到各級(jí)菜單(完整漢化版),提供免費(fèi)終生軟件的升級(jí)服務(wù);

8.智能化編程,通過TFL編輯器,可對(duì)測(cè)試的每個(gè)步驟進(jìn)行編程,TFL編輯器包括:WHILE、IF、STARTLOGDB、WRITELOGDB、SYSTEM等21個(gè)編程命令。

(三)測(cè)試夾具功能

1.測(cè)試夾具附件,包括:DIL等各種器件測(cè)試夾具1套(日常手工測(cè)試所需要的夾具);

2.治具需要定制服務(wù):電路板整板測(cè)試的專用測(cè)試工裝(包括:針床、專用接口板等);

3.可選配件:SOIC測(cè)試夾具、離線測(cè)試盒、分立器件測(cè)試探筆套裝等。

二、BM-8600電路板故障檢測(cè)儀系統(tǒng)功能特點(diǎn)

1.*硬件系統(tǒng)模塊化設(shè)計(jì),可根據(jù)要求擴(kuò)充測(cè)試模塊和測(cè)試通道。

2.*軟件系統(tǒng)測(cè)試過程流程化設(shè)計(jì),可以通過非編程方式實(shí)現(xiàn)測(cè)試過程流程化:保存流程測(cè)試的所有步驟和數(shù)據(jù),形成標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試流程。以后的測(cè)試就

3.按照流程步驟進(jìn)行測(cè)試,得出相應(yīng)的結(jié)果,并形成數(shù)據(jù)對(duì)比報(bào)告。測(cè)試流程的制定貫穿整個(gè)測(cè)試過程,并不斷完善測(cè)試流程。實(shí)時(shí)將測(cè)試經(jīng)驗(yàn)、測(cè)試信息擴(kuò)充到測(cè)試流程工藝中。完成了流程化設(shè)計(jì)的電路板可以實(shí)現(xiàn)人工快速、半自動(dòng)化故障排查及板級(jí)系統(tǒng)測(cè)試,提高排故和測(cè)試效率。

4.*測(cè)試數(shù)據(jù)記錄并生成自定義檢測(cè)報(bào)告。系統(tǒng)的測(cè)試數(shù)據(jù)可以根據(jù)需要定制生成自定義測(cè)試報(bào)告。測(cè)試報(bào)告包含用戶關(guān)注的測(cè)試數(shù)據(jù)與測(cè)試結(jié)果。生成用戶專有的測(cè)試報(bào)告,方便測(cè)試數(shù)據(jù)的保存。

5.*多電源數(shù)字電路測(cè)試模塊具備64通道數(shù)字集成電路在線、離線功能測(cè)試(可擴(kuò)充到2048通道),每個(gè)通道可以根據(jù)需要分別獨(dú)立定義為:輸入/電壓測(cè)量、輸出/信號(hào)驅(qū)動(dòng)或V/I曲線測(cè)量;可進(jìn)行自定義測(cè)試,器件與整板的自定義仿真測(cè)試。

6.*具備閾值電平臨界點(diǎn)掃描測(cè)試功能,確定標(biāo)準(zhǔn)板電平臨界值,可以檢查故障板器件的穩(wěn)定性。

7.系統(tǒng)可對(duì)各種器件進(jìn)行端口測(cè)試: V-I、V-T、V-I-F測(cè)試.二維V-I測(cè)試低達(dá)1Hz頻率,三維測(cè)試頻率高達(dá)到10kHz, 非常合適測(cè)試電感及高頻電容器件?稍O(shè)定同步脈沖信號(hào)的幅值與寬度, 進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測(cè)試。

8.變頻三維立體V-I-F測(cè)量方式,三維立體顯示器件的端口特性曲線,可以查找與器件頻率有關(guān)的故障。檢查與頻率特性有關(guān)的器件或電路板,三維立體圖形測(cè)量測(cè)量方式,適合數(shù)字及模擬集成電路與電路板的測(cè)試。

9.*系統(tǒng)各個(gè)模塊在同一個(gè)專業(yè)平臺(tái)操控下同時(shí)運(yùn)行,完成流程化、步驟化、標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試并生成自定義測(cè)試報(bào)告。

10.*集成8種測(cè)試儀器于一體:3通道數(shù)字示波器、2通道任意波形發(fā)生器、2通道數(shù)字電壓表、1通道數(shù)字電流表、1通道數(shù)字電阻表、1通道頻率計(jì)、8通道通用I/O接口、4路輔助電源。8種常規(guī)測(cè)試儀器可以并發(fā)操作,所有步驟過程可以記錄存儲(chǔ)并可對(duì)比,所有測(cè)試數(shù)據(jù)可以量化,并可以形成測(cè)試報(bào)告,可對(duì)電路板進(jìn)行仿真測(cè)試、調(diào)試測(cè)試、一致性測(cè)試等整板測(cè)試。

11.可編程程控電源模塊具備3通道隔離電源輸出,電源輸出由系統(tǒng)軟件來(lái)控制,三個(gè)通道可以支持串并聯(lián)以增加電壓和電流的輸出范圍。電源供應(yīng)器模塊可根據(jù)流程設(shè)計(jì),自動(dòng)開啟和關(guān)閉測(cè)試所需的電源。電源配合其他模塊使用,可實(shí)現(xiàn)整板測(cè)試與多電源測(cè)試的流程自動(dòng)化。

12.多達(dá)上萬(wàn)種的數(shù)字器件測(cè)試庫(kù),測(cè)試器件庫(kù)涵蓋常用的器件。也可以通過圖形化器件編輯器快速擴(kuò)充與自定義器件測(cè)試庫(kù)?梢酝ㄟ^圖形化器件編輯器定義輸入激勵(lì)信號(hào)及測(cè)試輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號(hào),快速批量建立元器件和整板測(cè)試庫(kù)。

13.系統(tǒng)含有模擬器件測(cè)試庫(kù),可對(duì)放大器、比較器、二極管、三極管、晶閘管、場(chǎng)效應(yīng)晶體管、光耦器件、AD和DA數(shù)模轉(zhuǎn)換器件等模擬集成電路進(jìn)行功能測(cè)試。 可進(jìn)行光耦合器及繼電器元器件的速度功能測(cè)試等。

14.系統(tǒng)可對(duì)各種器件進(jìn)行端口測(cè)試:V-I、V-T、I-T測(cè)試。測(cè)試頻率高達(dá)到12kHz, 非常合適測(cè)試電感及高頻電容器件?稍O(shè)定同步脈沖信號(hào)的幅值與寬度, 進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測(cè)試.

三、BM8600電路板故障檢測(cè)儀系統(tǒng)單元模塊特點(diǎn)

1.多電源數(shù)字集成電路測(cè)試的高級(jí)測(cè)試模塊(ABI-6500)

該模塊具有64個(gè)測(cè)量通道,可提供多種的測(cè)量功能。這些通道可提供全面性故障診斷能力,包括數(shù)字集成電路功能測(cè)試(在線/離線測(cè)試),集成電路管腳的連接狀態(tài)和電壓值的測(cè)量,以及在非加電情況下使用的V-I曲線測(cè)試功能,是數(shù)字集成電路測(cè)試的高級(jí)測(cè)試模塊。系統(tǒng)提供的信息更全面、更準(zhǔn)確、測(cè)試條件更豐富。仿真測(cè)試輸入電壓可以根據(jù)需要-10V~+10V之間自己定義,檢測(cè)輸出的電平閾值也可以自己定義。ABI-6500模塊可以更好的檢測(cè)測(cè)試庫(kù)以外的元器件,實(shí)現(xiàn)電路板仿真測(cè)試更加方便快捷。

2.模擬電路測(cè)試功能模塊(ABI-2500) 

在模擬集成電路測(cè)試模塊中允許對(duì)模擬集成電路和分立器件進(jìn)行功能測(cè)試。所有常見的模擬集成電路皆可以測(cè)試,系統(tǒng)會(huì)依照集成電路在PCB上的電路型態(tài)進(jìn)行功能測(cè)試,不需要編輯程序或參考電路圖。在該模塊中還包括了完整的V-I曲線測(cè)試功能,電路板或集成電路可在非加電的情況下,得到清楚易懂的圖形化測(cè)試結(jié)果.。ABI-2500模塊包含標(biāo)準(zhǔn)模擬器件參數(shù)測(cè)試庫(kù)。

3.三維立體矩陣式V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗混合電路測(cè)試模塊(ABI-3400)

規(guī)格:64通道,首創(chuàng)三維立體V-I-F測(cè)試,適合檢測(cè)與頻率相關(guān)的器件特性,強(qiáng)大的矩陣式測(cè)試,測(cè)試通道可擴(kuò)展(以64通道步進(jìn)擴(kuò)展,最高達(dá)2048通道),獨(dú)特的同步脈沖測(cè)試模式,可制定標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試流程及步驟。

4.八合一多功能儀表模塊(ABI-6350) 

在八合一多功能儀表模塊中,提供了多種高規(guī)格的測(cè)試及測(cè)量用的儀表功能在同一模塊之中。此種設(shè)計(jì)方式適合用于教育及一般用途的電子測(cè)量使用。其模塊提供了八種常用儀表功能:3通道數(shù)字示波器、2通道任意波形發(fā)生器、2通道數(shù)字電壓表、1通道數(shù)字電流表、1通道數(shù)字電阻表、4通道頻率計(jì)、8通道通用I/O接口、4路輔助電源.且操作者可以利用軟件的自定儀器平臺(tái)功能,來(lái)設(shè)計(jì)定制化的儀器操作接口。

5.系統(tǒng)專用可調(diào)式電源供應(yīng)器模塊(ABI-1200) 

此模塊可提供集成電路或電路板在進(jìn)行測(cè)試時(shí)所必要的電源。其具有三組可調(diào)式隔離電源輸出,三個(gè)通道支持串并聯(lián),遠(yuǎn)端電壓監(jiān)測(cè)補(bǔ)償,并同時(shí)具有過電壓及過流保護(hù)功能。

四、BM8600電路板故障檢測(cè)儀系統(tǒng)單元模塊主要技術(shù)指標(biāo)

1.多電源數(shù)字集成電路測(cè)試模塊: (6500模塊*1個(gè))

1.1測(cè)試通道數(shù) : 64測(cè)試通道(最大可擴(kuò)至2048通道)

1.2具有數(shù)字V-I曲線測(cè)試功能,64路測(cè)試通道(最大可擴(kuò)至2048通道)

1.3總線隔離信號(hào)通道:8通道(4邏輯高+4邏輯低)

1.4可設(shè)定輸出的邏輯信號(hào)電平范圍 : -10V ~ +10VDC

1.5具自動(dòng)掃描目前工作的數(shù)字邏輯電平閾值功能

1.6邏輯時(shí)序發(fā)生器:64通道(最大可擴(kuò)至2048通道),模式數(shù)(最大)999個(gè)/通道

1.7 64個(gè)通道可以獨(dú)自定義為:輸入(測(cè)量)和輸出(驅(qū)動(dòng)),輸出信號(hào)范圍:-10V~+10V,輸入信號(hào)范圍:+20V ~ -20VDC

2.模擬電路測(cè)試模塊:(2500模塊)

2.1 V-I測(cè)試性能

測(cè)量通道:2路探棒通道,2路同步脈沖信號(hào)通道,24路測(cè)試夾具通道,3路分立器件測(cè)試通道;

V-I曲線測(cè)試掃描電壓范圍:2~50Vp-p;

V-I曲線測(cè)試掃描頻率范圍:37.5Hz~12kHz;

V-I曲線測(cè)試阻抗范圍:100Ω~1MΩ;

V-I曲線測(cè)試信號(hào)波形:正弦波、三角波、斜波;

顯示曲線模式:V-I、V-T、I-T;

測(cè)試方式:學(xué)習(xí)對(duì)比、探棒實(shí)時(shí)對(duì)比、矩陣測(cè)試;

同步脈沖信號(hào)幅度:-10V~+10V; 

同步脈沖輸出模式:正脈沖、負(fù)脈沖、雙向脈沖、DC;

2.2模擬集成電路及分離組件測(cè)試功能

測(cè)量通道數(shù):24個(gè)獨(dú)立測(cè)試通道;

驅(qū)動(dòng)輸出電壓:-12V~+12V;

驅(qū)動(dòng)輸出電流:200mA;

可量測(cè)輸入電壓:±24V;

IC測(cè)試封裝型態(tài):OP放大器、比較器、DACs、ADCs;

IC測(cè)試方式:在線測(cè)試, 若OPA工作在線性區(qū), 則可自動(dòng)計(jì)算出放大率(Av);

晶體管測(cè)試能力:晶體管、FET、TRIACS、THYRISTOR;

3.系統(tǒng)專用可調(diào)式電源供給模塊功能: (1200模塊)

電源供應(yīng)輸出控制可由軟件來(lái)手動(dòng)控制開關(guān);

3通道完全獨(dú)立;

每通道:0~40VDC max, 0~8A max, 40W max;

支持串并聯(lián),以便增加電壓和電流供應(yīng);

4.八合一多功能儀表模塊性能:(6350模塊)

 4.1數(shù)字儲(chǔ)存示波器

測(cè)試通道:3路測(cè)試通道;

帶寬:100MHz;

采樣速率:500MS/s (25GS/s ERS 模式);

輸入阻抗:1MΩ;

4.2函數(shù)信號(hào)產(chǎn)生器:

測(cè)試通道:2通道;

輸出波形:DC、正弦波、方波、三角波、正脈沖、負(fù)脈沖;

輸出頻率范圍:0.5Hz~25MHz;

輸出阻抗:50Ω;

4.3通用 I/O:

通道數(shù):8路通用I/O通道;

信道模式:電壓輸出、電壓輸入;

提供CMOS、LVCMOS、ECL、TTL、LVTTL邏輯電平的預(yù)設(shè)值;

4.4電壓表

測(cè)量通道:2通道;

直流電壓測(cè)量范圍:0~±500V;

交流電壓測(cè)量范圍(50~60Hz(TRUE RMS,AC or AC+DC)):0~500V;

顯示分辨率:4½ Digits 20,000 Count;

4.5電流表:

測(cè)量通道:1通道;

直流電流測(cè)量范圍:0~±10A;

交流電流測(cè)量范圍(50~60Hz(TRUE RMS,AC or AC+DC)):0~10A;

顯示分辨率:4½ Digits 20,000 Count;

4.6電阻表:

測(cè)量通道:1通道;

測(cè)量范圍:0~10MΩ;

連續(xù)性:0Ω~ 1kΩ,分辨率:100mΩ;

二極管:測(cè)量范圍:0V~2V;分辨率:100μV;測(cè)試電流:1mA;

顯示分辨率:4½ Digits 20,000 Count;

4.7頻率計(jì)數(shù)器

測(cè)量通道:1路專用通道+3路DSO共用通道;

頻率測(cè)量范圍:專用通道:1MHz~800MHz;DSO通道:2Hz~100MHz;

輸入阻抗:專用通道:50Ω;DSO通道:1MΩ;

電壓輸入范圍:專用通道:±3.3V;DSO通道:±40mV~±8V。;

4.8輔助電源:

電壓輸出:+5V,+3.3V,+12V,-12V;

電流限制:+5V/1A;+3.3V/1A,+12V/100mA,-12V/100mA;

5.三維立體矩陣式V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗混合電路測(cè)試模塊  (3400模塊*1個(gè))

5.1測(cè)試通道:4路探棒通道,4路同步脈沖通道,64路夾具測(cè)試通道;

5.2 V-I曲線掃描電壓范圍:2~50Vp-p(2、5、10、20、50Vp-p);

5.3 V-I曲線掃描頻率設(shè)定范圍:1Hz~10kHz(可以1Hz為步進(jìn)設(shè)定);

5.4 V-I曲線測(cè)試阻抗范圍:100Ω~1MΩ(100、1k、10k、100k、1MΩ);

5.5 三維 V-I-F曲線掃描頻率范圍:10Hz~10kHz(可以1Hz為步進(jìn)設(shè)定);

5.6 顯示曲線模式:V-I、V-T、V-I-F、V-T-F;

5.7 測(cè)試方式:存儲(chǔ)對(duì)比、探棒實(shí)時(shí)對(duì)比、矩陣測(cè)試;

5.8 同步脈沖輸出設(shè)定:?jiǎn)蚊}沖、雙脈沖、三脈沖、四脈沖;

5.9 同步脈沖信號(hào)幅度:-10V~+10V,最小調(diào)整分辨率0.01V;
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