英國(guó)abi-AT256集成電路測(cè)試儀
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產(chǎn)品型號(hào)：AT256
產(chǎn)品代碼：
產(chǎn)品價(jià)格：
折 扣 率： 0
最后更新：2022-08-13
關(guān) 注 度：6712
生產(chǎn)企業(yè)：北京金三航科技發(fā)展有限公司
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產(chǎn)品詳細(xì)介紹
最大測(cè)試管腳數(shù):256
測(cè)試適用范圍：
元器件測(cè)試-適用于所有類型的集成電路的測(cè)試和元器件的篩選測(cè)試
電路板測(cè)試-適用各種電路板的檢測(cè)（附加測(cè)試電纜線和各種封裝的測(cè)試夾）
測(cè)試原理（v-i曲線測(cè)試）：
對(duì)元器件的每個(gè)管腳施加一個(gè)安全的低功率的掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào)，產(chǎn)生一個(gè)阻抗特征圖，以備對(duì)比和存儲(chǔ)。
被測(cè)器件和數(shù)據(jù)庫(kù)中標(biāo)準(zhǔn)動(dòng)態(tài)阻抗圖相比對(duì)，阻抗圖的差異大小即可判斷元件的好壞和可用性。
測(cè)試信號(hào)可設(shè)定的參數(shù)包括: 電壓、波形、源電阻、頻率�？筛鶕�(jù)需要進(jìn)行調(diào)整以便得到準(zhǔn)確的信息。
集成電路測(cè)試操作如此簡(jiǎn)單:
1.從數(shù)據(jù)庫(kù)選擇要測(cè)試的集成電路型號(hào).
2.將集成電路插入測(cè)試座.
3.執(zhí)行測(cè)試
4.得到PASS或FAIL的測(cè)試結(jié)果.
商品輸入檢驗(yàn)
不需要電子專業(yè)知識(shí).
適用于所有集成電路/封裝件.及各種類型電路板
靈活、好安裝、宜操作.
測(cè)試結(jié)果直接: PASS或FAIL.
軟件可設(shè)定各種測(cè)試條件.
可提供完整的元件測(cè)試分析報(bào)告.
適合不同封裝形式的元件:
-雙列插腳(DIL)
-小型封裝集成集成電路(SOIC)
-小型封裝(SSOP, TSOP)
-塑料無引線芯片載體封裝(PLCC)
-四方扁平封裝(TQFP, PQFP, LQFP)
-球門陣列封裝(BGA)
注意: AT系列不受限于只能測(cè)試電子集成電路, 也可用于整個(gè)模塊。
測(cè)試通道
標(biāo)準(zhǔn)提供多達(dá)128個(gè)測(cè)試通道, 可設(shè)定用于不同的元器件封裝。
升級(jí)模塊：64通道
可擴(kuò)充到192/256個(gè)測(cè)試通道。
用兩種模式掃瞄:
•一般模式: 掃描信號(hào)是以一固定管腳為參考點(diǎn), 測(cè)試信號(hào)施加到待測(cè)元器件上。
•矩陣模式: 掃描信號(hào)是以元器件的各個(gè)管腳為參考點(diǎn), 測(cè)試信號(hào)循環(huán)組合施加到待測(cè)元器件上。
數(shù)據(jù)庫(kù)
用戶可根據(jù)自己的需要，用性能完好的器件創(chuàng)建ic的測(cè)試數(shù)據(jù)庫(kù)，以備日后測(cè)試使用。創(chuàng)建一個(gè)測(cè)試庫(kù)僅需要數(shù)秒的操作時(shí)間，操作十分簡(jiǎn)單容易。
結(jié)果比較型式:
將數(shù)據(jù)庫(kù)中的IC與待測(cè)ic的V-I曲線相比較, 即可判定被測(cè)IC的好壞,提供兩種比較型式:
•與數(shù)據(jù)庫(kù)中元件比較: 被測(cè)IC的V-I曲線與數(shù)據(jù)庫(kù)中的相同型號(hào)的IC比較
• 被測(cè)IC之間比較比較: 多個(gè)集成電路的之間的V-I曲線相比較。
軟件- 靈活性
1)軟件提供測(cè)試庫(kù)圖形化修改功能，以方便用戶制作不同新封裝形式器件的測(cè)試庫(kù),
2)軟件可以自定義各個(gè)通道的使用，一臺(tái)機(jī)器可以同時(shí)檢測(cè)多個(gè)器件
報(bào)告
1）軟件可產(chǎn)生一詳細(xì)的測(cè)量報(bào)告, 包含集成電路相片。這份報(bào)告可用于深入分析好壞集成電路的差異具體原因。
2）用戶可處理集成電路的各種信息; 集成電路的動(dòng)態(tài)阻抗圖可儲(chǔ)存在pc中，并可隨時(shí)讀出, 以與新的掃瞄阻抗圖作比較。
3）為了今后使用方便, 可在集成電路的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)文件夾內(nèi)增加其它信息, 包括:相片、PDF文件或甚至文字與電子表格。
轉(zhuǎn)接器
標(biāo)準(zhǔn)型: 用于SOIC、SSOP、TSOP及PLCC封裝; 也有提供AT系列校正工具組。
英國(guó)abi-集成電路測(cè)試儀,AT256,標(biāo)準(zhǔn)型測(cè)試座
標(biāo)準(zhǔn)SOIC轉(zhuǎn)接器
通用型:
用于SOIC及PLCC封裝; 一個(gè)轉(zhuǎn)接器即適用于各種芯片尺寸, 測(cè)試有20、28、32、44、52、68、84腳的集成電路。
英國(guó)abi-集成電路測(cè)試儀,AT256,通用型測(cè)試座
一個(gè)轉(zhuǎn)接器即適用于測(cè)試寬0.15”～0.6”達(dá)44腳的集成電路。
客制型:
可訂制各種封裝的轉(zhuǎn)接器, 包括: BGA、QFP; 請(qǐng)進(jìn)一步洽詢, 以設(shè)計(jì)符合您需求的轉(zhuǎn)接器。
英國(guó)abi-集成電路測(cè)試儀,AT256,客戶定制型測(cè)試座
BGA插座轉(zhuǎn)接器
技術(shù)規(guī)格
掃描測(cè)試波形 正弦波,鋸齒波，三角波
掃描測(cè)試頻率 6種頻率供選擇:100Hz,200Hz,500Hz,1KHz,2KHz,5KHz
掃描電壓(Vs) 4種峰值電壓選擇:-20~+20V 步進(jìn)0.1V
掃描源電阻(Rs) 3種電阻供選擇:1kΩ, 10kΩ,100kΩ
掃描通道 AT128通道數(shù)量:128通道(已停產(chǎn))
AT192通道數(shù)量:192通道
AT256通道數(shù)量:256通道
顯示模式:VI曲線圖
掃描模式:手動(dòng)或連續(xù), 或自行設(shè)定掃描次數(shù)
掃瞄模式 一般模式:掃描信號(hào)是以一固定管腳為參考點(diǎn),測(cè)試信號(hào)施加到待測(cè)元器件上.
矩陣模式:掃描信號(hào)是以元器件的各個(gè)管腳為參考點(diǎn),測(cè)試信號(hào)循環(huán)組合施加到待測(cè)元器件上.
電腦連接 USB
連接電腦使用,標(biāo)準(zhǔn)配置含上位機(jī)軟件
適合不同封裝形式元件: 適合不同封裝形式的元件:
-雙列插腳(DIL)
-小型封裝集成集成電路(SOIC)
-小型封裝(SSOP, TSOP)
-塑料無引線芯片載體封裝(PLCC)
-四方扁平封裝(TQFP, PQFP, LQFP)
-球門陣列封裝(BGA)
注意: AT系列不受限于只能測(cè)試電子集成電路, 也可用于整個(gè)模塊及電路板。
測(cè)試報(bào)告
可自行編輯測(cè)試報(bào)告
功率需求 線路電壓:85～264VAC
頻率:47～63Hz
功率:最大150W
尺寸/重量 尺寸:27x25x9cm;重量:3.5kg
操作溫度.濕度 溫度:10°C～30°C濕度: 20～80% RH。
保修期 一年
認(rèn)證 CE認(rèn)證& RoHS合格。
計(jì)算機(jī)規(guī)格需求 Microsoft Windows XP或Vista
Pentium 4或更高
最小的RAM:512 MB
硬盤空間:200MB
USB2.0高速傳輸
鼠標(biāo),鍵盤與屏幕
標(biāo)準(zhǔn)配件: 用戶手冊(cè)。
USB導(dǎo)線。
軟件CD(含驅(qū)動(dòng)程序與操作手冊(cè))。
選購(gòu)配件: 校正工具組。
各種轉(zhuǎn)接器。
儀器用途一
翻新及二手器件檢測(cè)
• 可由倉(cāng)庫(kù)部門在收到集成電路時(shí)進(jìn)行檢查, 以確保收到的集成電路是真品; 商品輸入部門的員工不需要電子知識(shí)即可操作這個(gè)系統(tǒng)。
• 檢查可能偽造的集成電路, 并分析供貨商的測(cè)試數(shù)據(jù)。用戶可應(yīng)用完整的報(bào)告, 確定問題的來源。
翻新及二手器件檢測(cè)儀
能快速簡(jiǎn)單檢測(cè)出翻新IC及集成電路測(cè)試的解決方案。
透過精密的PinPrint(針印)測(cè)試算法則,能夠辨識(shí)出有不同內(nèi)部結(jié)構(gòu)或根本沒有結(jié)構(gòu), 甚至是由不同廠家所制造的集成電路。
他就像您的電子守衛(wèi), 守衛(wèi)在您生產(chǎn)設(shè)備之入口, 不受偽造元器件之滲透?jìng)Α?br/>
何謂偽造翻新集成電路
Counterfeit [koun-ter-fit](形容詞): 意思是仿造, 以便虛偽不實(shí)地假裝是真品。
制造膺品(仿冒品)集成電路是非法的, 會(huì)出現(xiàn)(仿冒品)是因?yàn)殡娮恿慵目赊D(zhuǎn)讓。全球任何需要制造PCB集成電路的公司都在承擔(dān)這個(gè)風(fēng)險(xiǎn), 也或許曾經(jīng)收到過大批的”不良”元器件。
仿冒可透過各種過程達(dá)成: 在極不可靠的過程里, 把集成電路從報(bào)廢/棄置的電路板中取出, 接著作表面處理維修; 再加上偽相關(guān)信息于集成電路上, 包括制造廠商標(biāo), 然后拿來當(dāng)作真品賣給粗心的買家。另一個(gè)方法則是真的憑正規(guī)的制造能力, 在標(biāo)準(zhǔn)工時(shí)以外的大夜班(ghost shift)生產(chǎn)集成電路, 然而, 以那種方式生產(chǎn)的芯片含有許多制造上的瑕疵, 有些甚至沒有硅片(silicon die)。
很不幸地, 得一直等到把它們放在PCB上, 在生產(chǎn)團(tuán)隊(duì)對(duì)完整的組裝進(jìn)行第一次測(cè)試時(shí), 才可能鑒別到仿造的集成電路。如此將導(dǎo)致昂貴的過程－辨識(shí)問題集成電路、再把它們從生產(chǎn)中的所有電路板上拿掉。在某些情況下, 甚至得把整批成品回收回工廠。
5年來, 仿冒集成電路的舉發(fā)呈倍數(shù)地增加; 2008年, 仿冒IC的出口量占全球貿(mào)易總額的8%以上, 相當(dāng)于損失60億的銷售額。
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